TY  - CHAP 
AU  - Sales Lérida, David
AU  - Beltrán Custodio, Ana María
AU  - Lozano, Juan G.
AU  - Mánuel Delgado, José Manuel
AU  - Guerrero Lebrero, María de la Paz
AU  - Ben Fernández, Teresa
AU  - Herrera Collado, Miriam
AU  - Morales, Francisco M.
AU  - Pizarro Junquera, Joaquín
AU  - Sánchez, Ana M.
AU  - Galindo Reaño, Pedro Luis
AU  - González Robledo, David
AU  - García Roja, Rafael
AU  - Molina Rubio, Sergio Ignacio
A4  - Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica y Química Inorgánica
PY  - 2012
SN  - 978-3-642-23351-7
UR  - http://hdl.handle.net/10498/14794
AB  - This chapter briefly describes the fundamentals of high-resolution electron microscopy techniques. In particular, the Peak Pairs approach for strain mapping with atomic column resolution, and a quantitative procedure to extract atomic column...
LA  - eng
PB  - Amalia Patanè & Naci Balkan
TI  - High-Resolution Electron Microscopy of Semiconductor Heterostructures and Nanostructures
ER  -